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Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Ч. 3

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Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Ч. 3

Данилов В. С.
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В третьей части учебного пособия рассмотрены наиболее важные процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Адресовано студентам, специализирующимся в области создания полупроводниковых устройств.
Sprache:
russian
Datei:
PDF, 1.54 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
russian0
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